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IM3536LCR测试仪产品概述 DC，4Hz~8MHz测量频率，今后的标杆产品 ● 测量频率DC，4Hz~8MHz ● 测量时间：较快1ms ● 基本精度：±0.05% rdg ● 1mΩ以上的精度保证范围，也可安心进行低阻测量 ● 可内部发生DC偏压测量 ● 从研发到生产线活跃在各种领域中
IM3533LCR测试仪产品概述 应用于生产线和自动化测试领域的理想选择 ● 基本精度±0.05％，测量范围广（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA） ● 在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下，可以以往产品10倍的速度不间断测试。 ● 内置比较器和BIN功能 ● 2ms的快速测试时间
IM3523LCR测试仪产品概述 应用于生产线和自动化测试领域的理想选择 ● 基本精度±0.05％，测量范围广（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA） ● 在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下，可以以往产品10倍的速度不间断测试。 ● 内置比较器和BIN功能 ● 2ms的快速测试时间
3511-50LCR测试仪产品概述 精巧，非常专业，5ms快速测量LCR ● 高速测量：5ms（1kHz）或13ms（120Hz） ● 高精度： ± 0.08% ● 内置比较器
3506-10C测试仪产品概述 对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试 ● 模拟测量时间0.6ms（1MHz）的高速测量 ● 提高了抗干扰性，在产线的上也能实现高反复精度 ● 1kHz、1MHz测量下，低电容的贴片时可稳定测量 ● 根据BIN的测定区分容量
3504-60C测试仪产品概述 封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 ● 高速测量2ms ● 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 ● 对应测试线，比较器功能/触发输出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试 ● 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试 ● 查出全机测量中的接触错误，提高成品率
3504-50C测试仪产品概述 封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 ● 高速测量2ms ● 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 ● 对应测试线，比较器功能/触发输出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试 ● 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试 ● 查出全机测量中的接触错误，提高成品率
3504-40C测试仪产品概述 封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 ● 高速测量2ms ● 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 ● 对应测试线，比较器功能/触发输出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试 ● 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试 ● 查出全机测量中的接触错误，提高成品率
